詳情介紹
| 品牌 | 廣皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣 |
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| 高溫區(qū) | +60℃～200℃ | 低溫區(qū) | -10℃～-60℃ |
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| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
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| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 3～5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
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| 低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時(shí)間 | 30min 以上 |
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| 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
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| 工作室尺寸 | 600×500×500mm（寬 × 高 × 深） | 外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm |
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| 電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 560kg |
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高性能三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫控響應(yīng)速度快
在當(dāng)今科技高速發(fā)展的時(shí)代，產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性成為企業(yè)競(jìng)爭的關(guān)鍵。高性能三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為一款高性能的測(cè)試設(shè)備，以出色的性能和快速的溫控響應(yīng)速度，為產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)提供了有力的保障。它就像一位嚴(yán)苛的考官，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行不同環(huán)境溫度氣候的考驗(yàn)，確保產(chǎn)品在各種不同的溫度環(huán)境下都能保持穩(wěn)定的性能。
一、主要功能及特點(diǎn)：
功能：能夠快速實(shí)現(xiàn)高溫、低溫之間的切換，模擬芯片在實(shí)際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境，對(duì)芯片的性能、可靠性進(jìn)行嚴(yán)格測(cè)試。
特點(diǎn)：
三箱獨(dú)立結(jié)構(gòu)，高溫、低溫和測(cè)試區(qū)互不干擾，確保溫度轉(zhuǎn)換快速、準(zhǔn)確。
精準(zhǔn)的溫度控制，溫度波動(dòng)小，能夠滿足不同產(chǎn)品的測(cè)試要求。
快速溫度切換功能，可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)變，模擬真實(shí)的熱脹冷縮環(huán)境。
智能化控制系統(tǒng)，操作簡便，可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。
良好的密封性和隔熱性能，減少能量損失，提高測(cè)試效率
二、TSD-150F-3P 參數(shù)：溫度范圍：高溫區(qū) +60℃～+150℃，低溫區(qū) -10℃～-65℃。
溫度波動(dòng)度：高溫區(qū) ±0.5℃，低溫區(qū) ±1.0℃。
溫度均勻度：高溫區(qū) ±2.0℃，低溫區(qū) ±2.0℃。
升溫速率：從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。
降溫速率：從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。
工作室尺寸：寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。
三、實(shí)驗(yàn)方法：首先，將待測(cè)試的產(chǎn)品放置在試驗(yàn)箱的測(cè)試區(qū)內(nèi)，并確保產(chǎn)品安裝牢固。
根據(jù)測(cè)試要求，設(shè)置試驗(yàn)箱的高溫、低溫和沖擊時(shí)間等參數(shù)。
啟動(dòng)試驗(yàn)箱，設(shè)備將自動(dòng)進(jìn)行溫度控制和沖擊循環(huán)。在測(cè)試過程中，可以通過監(jiān)控系統(tǒng)實(shí)時(shí)觀察產(chǎn)品的狀態(tài)和溫度變化情況。
測(cè)試結(jié)束后，取出產(chǎn)品，進(jìn)行性能檢測(cè)和分析。對(duì)比測(cè)試前后產(chǎn)品的性能指標(biāo)，評(píng)估產(chǎn)品在冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。
四、滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
一、國際標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。
MIL-STD-810F：美國J用標(biāo)準(zhǔn)，環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法。
二、國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫。
GB/T 2423.2-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫。
GB/T 2423.22-2012：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。
高性能三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫控響應(yīng)速度快
高性能三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱以其快速的溫控響應(yīng)速度和精準(zhǔn)的溫度控制能力，為產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)提供了可靠的保障。選擇這款試驗(yàn)箱，就是選擇了高品質(zhì)的測(cè)試解決方案。讓我們攜手共進(jìn)，以先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)為產(chǎn)品的質(zhì)量保駕護(hù)航，共同開創(chuàng)美好的未來。
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產(chǎn)品型號(hào)：TSD-150F-3P
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